「新しい粒度分布測定技術に関する技術セミナー」

広く使われているレーザー回折式回折式粒度分布計は、簡便に粒子径分布を測定できる一方で、粒子形状が分からないという課題がありました。これらの課題を解決し、乾燥粉体から高濃度ペーストまで幅広い試料形態に対応可能な「Partica」（株式会社堀場製作所製）は、画像解析を同時に行うことで、粒子径分布だけでなく、その裏にある「粒子の実像」を可視化します。
本セミナーは、粒子径分布の裏にある「粒子の実像」を可視化し、品質安定化等に役立てる実践的な内容です。

※10月中旬から下旬にかけて、堀場製作所のご協力により、「Partica」のデモ機を富士工業技術支援センターに設置いたします。期間中は企業の皆様に実際に測定をお試しいただける機会を提供いたしますので、ぜひご活用ください。

１ 日時：令和８年9月30日（水）14：00～15：00
２ 場所：富士工業技術支援センター大研修室(富士市末広20番地6）
３ 内容：講演と質疑応答
次世代粒子分析装置”Partica”セミナー
～粒子径分布と形状解析を「同時」に実現する新技術について～
講師：株式会社堀場製作所
５ 定員： 40名（申込多数の場合は先着順）
６ 参加費：無料
※申込み画面で入力頂いた事項は、講師と共有致します　ご承知おきください